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通常双绞线系统的测试指标中，（ ） 是由于集肤效应、绝缘损耗、阻抗不匹配、连接电阻等因素，造成信号沿链路传输的损失。A、衰减值 B、近端串绕 C、传输延迟 D、回波损耗
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